熒光材料的發(fā)光機理

在高能射線(xiàn)的照射下，處于基態(tài)的熒光物質(zhì)分子通過(guò)吸收光線(xiàn)，躍遷到第一電子激發(fā)態(tài)；由于激發(fā)態(tài)是不穩定的，所以熒光物質(zhì)分子最終降回到基態(tài)，在降落過(guò)程中會(huì )發(fā)出一種可見(jiàn)光，通常把這種光稱(chēng)之為熒光。當高能射線(xiàn)的激勵光撤去后，熒光物質(zhì)還會(huì )持續發(fā)光一段時(shí)間，這時(shí)的熒光即稱(chēng)為余輝。

熒光壽命測溫原理

熒光物質(zhì)從激發(fā)態(tài)返回到基態(tài)時(shí)，放出輻射發(fā)出熒光，激勵光撤去后，熒光材料持續發(fā)光的時(shí)間，被稱(chēng)為熒光衰落時(shí)間或熒光壽命，通常記作 τ。
熒光余輝的衰落直至消失是光的淬滅過(guò)程，溫度的升高使參與吸收光能的電子數增多，熒光的淬滅過(guò)程時(shí)間縮短，所以熒光物質(zhì)所處的溫度高低決定了光的淬滅過(guò)程的長(cháng)短，也就是熒光壽命的長(cháng)短，熒光壽命的測溫原理正是基于這種溫度相關(guān)性。

開(kāi)關(guān)柜光纖測溫儀的優(yōu)點(diǎn)

為有效避免電力事故的發(fā)生，達到安全生產(chǎn)的工業(yè)要求，開(kāi)關(guān)柜運行狀態(tài)監測系統的設計要完全符合相關(guān)安全規章制度的要求，這就導致了對開(kāi)關(guān)柜的研究受以下開(kāi)關(guān)柜特殊性的限制：
首先，是開(kāi)關(guān)柜的封閉性。開(kāi)關(guān)柜空間密閉且各個(gè)隔室呈封閉狀態(tài)，一般的測量?jì)x器很難放入其中，即使能放進(jìn)去，也需要測量?jì)x器的探頭尺寸特別小巧。 其次，是開(kāi)關(guān)柜內部強烈的電磁干擾以及惡劣的運行環(huán)境。柜內設備長(cháng)期處于高電壓大電流的運行狀態(tài)，這會(huì )導致其內部具有強烈的電磁干擾，使得測量數據不準確，從而影響測溫裝置的可靠性。 考慮到開(kāi)關(guān)柜研究的這些特殊性，福州華光天銳利用熒光光纖測溫和數據無(wú)線(xiàn)通信相結合的方式實(shí)現開(kāi)關(guān)柜觸頭溫度的監測。光纖傳輸的是光信號，不受開(kāi)關(guān)柜內電磁干擾的影響，將光纖探頭直接埋設在高壓開(kāi)關(guān)柜內觸頭上，不僅避免了無(wú)線(xiàn)傳感器測溫供電不易的問(wèn)題，熒光測溫系統主機儀還具有抗電磁干擾、探頭尺寸小、可以伸到狹小空間、易于安裝、電絕緣等優(yōu)點(diǎn)，另外還兼具無(wú)線(xiàn)傳輸數據，無(wú)需人工巡檢的功能，滿(mǎn)足了開(kāi)關(guān)柜測溫環(huán)境特殊性的要求。